JEOL Akademie
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Schulungsangebote der JEOL Akademie

Moderne analytische Systeme bieten immer mehr Möglichkeiten und werden dadurch zunehmend komplexer. Somit steigt auch der Bedarf nach einer umfassenden und zielgerichteten Wissensvermittlung.

Um diesem Bedarf gerecht zu werden bieten wir allen unseren Kunden und Interessenten den Zugang zur JEOL Akademie in unserem Kunden- und Applikationszentrum in Freising bei München, vor Ort oder zunehmend auch digital. Hier erfahren Sie die technischen Möglichkeiten der JEOL Produkte, sowie Tipps und Tricks zur professionellen Umsetzung ihrer Applikationen. Erfahrene Applikationsspezialisten vermitteln fundiertes Wissen aus den unterschiedlichsten Projekten in Forschung und Entwicklung. Inhaltlich sind unsere Schulungen gezielt auf die Bedürfnisse der Teilnehmer zugeschnitten. Gern entwickeln wir Trainings, speziell auf Ihre konkreten Fragestellungen zugeschnitten! Ihre Anfrage zu Kursterminen wie auch On-Demand-Trainings richten Sie bitte an training@jeol.de. Wir freuen uns auf die gemeinsame Lernzeit mit Ihnen!

Nachfolgend finden Sie unser Schulungsprogramm. Bitte schreiben Sie uns an training@jeol.der oder nutzen Sie unser Kontaktformular, falls Sie Fragen zur JEOL Akademie haben. Alle Schulungen werden an den neuesten JEOL-Geräten durchgeführt.

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Alle SchulungsangeboteREMTEMAnalysisZusätzliche Kurse
 
 

Rasterelektronenmikroskope (REM)

  • Thema
    Beschreibung
    Datum
    Preis
    Verfügbarkeit
  • SEM Compact
    From theory to best practice (2-days-training): Sample preparation, basic alignment of the SEM, optimal choice of imaging detectors and parameters.
    22.11. - 23.11.2022
    1450,00 €
    4

Transmissionselektronenmikroskope (TEM)

  • Thema
    Beschreibung
    Datum
    Preis
    Verfügbarkeit
  • TEM für Materialwissenschaftler - Tipps und Tricks
    Einstieg in die Elektronenmikroskopie (2-Tages-Kurs): TEM Justage, Hellfeld, Elektronenbeugung, STEM, EDX
    08.11. - 09.11.2022
    1450,00 €
    5

Analysis

  • Thema
    Beschreibung
    Datum
    Preis
    Verfügbarkeit
  • SXES Starter - hybrid
    JEOL's Soft X-ray Emission Spectrometer (SXES) is a powerful high energy resolution WDS spectrometer for light element analysis, suitable for SEM and EPMA users, as part of an integrated analytical system or as a stand-alone detector. Use of the SXES enables low voltage analysis at <5kV, spectral mapping with high energy and spatial resolution, fast parallel detection, and chemical state analysis, one increasingly important application field of SXES is in Li-battery research.During this course, JEOL application experts will explain construction and operational principles of the SXES as well as providing various examples of SXES applications. Remote participation is possible (price-reduced), please ask for an individual offer.
    26.10.2022
    850,00 €
    9

Zusätzliche Kurse und Schulungen

  • Thema
    Beschreibung
    Datum
    Preis
    Verfügbarkeit
    • Derzeit stehen keine Schulungsangebote für diesen Bereich zur Verfügung.

Rasterelektronenmikroskope (REM)

  • SEM Compact
    22.11. - 23.11.2022
    From theory to best practice (2-days-training): Sample preparation, basic alignment of the SEM, optimal choice of imaging detectors and parameters.
    4
    1450,00 €

Transmissionselektronenmikroskope (TEM)

  • TEM für Materialwissenschaftler - Tipps und Tricks
    08.11. - 09.11.2022
    Einstieg in die Elektronenmikroskopie (2-Tages-Kurs): TEM Justage, Hellfeld, Elektronenbeugung, STEM, EDX
    5
    1450,00 €

Analysis

  • SXES Starter - hybrid
    26.10.2022
    JEOL's Soft X-ray Emission Spectrometer (SXES) is a powerful high energy resolution WDS spectrometer for light element analysis, suitable for SEM and EPMA users, as part of an integrated analytical system or as a stand-alone detector. Use of the SXES enables low voltage analysis at <5kV, spectral mapping with high energy and spatial resolution, fast parallel detection, and chemical state analysis, one increasingly important application field of SXES is in Li-battery research.During this course, JEOL application experts will explain construction and operational principles of the SXES as well as providing various examples of SXES applications. Remote participation is possible (price-reduced), please ask for an individual offer.
    9
    850,00 €

Zusätzliche Kurse und Schulungen

    Derzeit stehen keine Schulungsangebote für diesen Bereich zur Verfügung.

Rasterelektronenmikroskope (REM)

  • Thema
    SEM Compact
    Datum
    22.11. - 23.11.2022
    Verfügbarkeit
    4
    Preis
    1450,00 €
    Beschreibung
    From theory to best practice (2-days-training): Sample preparation, basic alignment of the SEM, optimal choice of imaging detectors and parameters.

Transmissionselektronenmikroskope (TEM)

  • Thema
    TEM für Materialwissenschaftler - Tipps und Tricks
    Datum
    08.11. - 09.11.2022
    Verfügbarkeit
    5
    Preis
    1450,00 €
    Beschreibung
    Einstieg in die Elektronenmikroskopie (2-Tages-Kurs): TEM Justage, Hellfeld, Elektronenbeugung, STEM, EDX

Analysis

  • Thema
    SXES Starter - hybrid
    Datum
    26.10.2022
    Verfügbarkeit
    9
    Preis
    850,00 €
    Beschreibung
    JEOL's Soft X-ray Emission Spectrometer (SXES) is a powerful high energy resolution WDS spectrometer for light element analysis, suitable for SEM and EPMA users, as part of an integrated analytical system or as a stand-alone detector. Use of the SXES enables low voltage analysis at <5kV, spectral mapping with high energy and spatial resolution, fast parallel detection, and chemical state analysis, one increasingly important application field of SXES is in Li-battery research.During this course, JEOL application experts will explain construction and operational principles of the SXES as well as providing various examples of SXES applications. Remote participation is possible (price-reduced), please ask for an individual offer.

Zusätzliche Kurse und Schulungen

    Derzeit stehen keine Schulungsangebote für diesen Bereich zur Verfügung.

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