Vorführ- und Gebrauchtgeräte

Vorführ- und Gebrauchtgeräte

Nachfolgend aufgeführt finden Sie eine Auswahl von JEOL Vorführ- und Gebrauchtgeräten.
Bei Fragen zu den einzelnen Geräten sowie deren Preisen stehen wir Ihnen jederzeit gerne zur Verfügung

JNM-ECZS400 Spektrometer

Die kompakte Effizienz-Klasse der NMR-Instrumente mit 400Hz

Merkmale

Mit über 60 Jahren Erfahrung ist JEOL der älteste NMR-Hersteller weltweit. JEOL Instrumente zählen zu den schnellsten, stabilsten, zuverlässigsten und robustesten Geräten, die es auf dem Markt gibt. Mit dem JNM-ECZS400 bietet JEOL nicht nur das kompakteste NMR-Spektrometer der Welt, sondern auch ein preisgekröntes*.

Das Gerät, inkl. Konsole und Magnet, mit Royal HFX Probenkopf und Autosampler für 30 Proben ist aktuell zu einem Vorzugspreis zu erwerben.

Merkmale JNM-ECZS400

  • Hochleistungsspektrometer in kompaktem, preisgekröntem Designs
  • valide Analyse von Fest- und Flüssigstoffen
  • 43% reduzierte Grundfläche des Haupt-Chassis im Vergleich zu ähnlichen Instrumenten
  • hochempfindliche Autotunesonden
  • State-of-the-Art supraleitender Magnet mit geringsten Streufeldern und Driftraten
  • hochzuverlässige Hardware + moderne Software + erstklassiver Service = Ihr optimierter Workflow
  • Preisvorteil, da Vorführgerät

Bei Interesse oder weiteren Fragen zu einem möglichen Einsatz in Ihrem Labor wenden Sie sich bitte an sales@jeol.de oder nutzen Sie unser Kontaktformular. Gern bieten wir zu unseren Gebrauchtgeräten auch den passenden Service-Vertrag an. Wir freuen uns auf Ihre Anfrage!

JNM-ECZS400 Spektrometer
JNM-ECZS400 Spektrometer

JEOL JSX-1000S ElementEye™ Röntgenmikroanalysegerät

Präzise und schnelle Ergebnisse der elementaren Zusammensetzung.

Merkmale

Das JSX-1000S ElementEye™ ist die ideale Lösung im Bereich der Röntgenfluoreszenz-Spektrometer: Kompaktes Design,  benutzerfreundliche Bedienung, hoher Durchsatz und verbesserte Empfindlichkeit gegenüber vergleichbaren Geräten. Egal, um welche Probe es sich handelt, das JSX-1000S ElementEye™ liefert präzise, in Sekunden das Ergebnis der elementaren Zusammensetzung. Die intuitive Touchscreen-Bedienoberfläche auf Windows-Basis ist für Smartphone- und Tablet-PC-Anwender einfach und intuitiv. 

Merkmale JSX-1000S ElementEye

  • Einfache Bedienung
    Mit seiner multi-touch Benutzeroberfläche sind alle 'Apps' mit einem Klick erreichbar. Sobald die Probe eingelegt ist, kann zwischen der Analyse und dem dazugehörigen Reporting schnell und einfach umgeschaltet werden. 
  • Hohe Sensibilität & großer Durchsatz
    Der JEOL Silizium-Drift-Detektor neuester Bauart liefert in Verbindung mit der speziell entwickelten Röntgenröhre einen hohen Durchsatz. Bis zu 9 Filter sind für präzise Spurenanalyse über den gesamten Elementbereich von F zu U verfügbar.
  • Darstellung von Ergebnissen
    Die lösungsorientierten Softwaremodule sind für den Einsatz in einem umfangreichen Applikationsbereich wie z.B. für RoHS/WEEE, Umweltforschung oder Bestimmung der Schichtdicke, vorgesehen.
  • Kompaktes Design
    Durch die platzsparende und kompakte Größe des Hauptgerätes mit der dazugehörigen Bedienungseinheit kann das Gerät überall schnell und einfach installiert werden. 
  • System-Eigenanalyse
    Bereits in der Standardausführung des JSX-1000S ist eine Funktion enthalten, welche über den Systemzustand informiert und z.B. zur Neukalibrierung des Detektors auffordert und diese auf Wunsch auch automatisch durchführt.

Bei Interesse oder weiteren Fragen zu einem möglichen Einsatz in Ihrem Labor wenden Sie sich bitte an sales@jeol.de oder nutzen Sie unser Kontaktformular. Gern bieten wir zu unseren Gebrauchtgeräten auch den passenden Service-Vertrag an. Wir freuen uns auf Ihre Anfrage!

JEOL JSX-1000S ElementEye
JEOL JSX-1000S ElementEye

JSM-IT200 InTouchScope™ Rasterelektronenmikroskop

Vielseitiges, hochauflösendes Kompakt-REM gepaart mit der intuitiven Bedienung eines Table-Top-REMs. Neuwertiges System aus unserem Applikationslabor.

Merkmale

Das InTouchScope JSM-IT200 zeichnet sich durch alle Funktionen eines voll ausgestatteten Rasterelektronenmikroskops mit Wolframkathode und integrierter EDS-Analyse in kompaktem, ergonomischem und intuitivem Design aus. Die Installation ist denkbar einfach, da weder Kühlwasser- noch Gasanschluss nötig sind.

Praktische Funktionen des JSM-IT200  für Benutzer aller Erfahrungs-Levels:

  • Höchste Bildauflösung im HV/LV/SE/BSE-Modus
  • Zeromag-Modus für den intuitiven Übergang zwischen lichtoptischem und REM-Bild
  • Chemische Analytik durch optionales, integriertes EDS mit live-Analyse
  • Multi-Touch Benutzeroberfläche und Remote Control
  • Zahlreiche Automatik-Funktionen und vorgefertigte Rezepte für unterschiedliche Probentypen
  • Mehrkanal-Live-Bild und Videoaufnahme gleichzeitig möglich
  • Schnelle Probennavigation bei 5x – 300.000x Vergrößerung
  • Smile View Premium Offline-Software mit Bildschärfung, Bildmontage, Positionsausrichtung und Überlagerung
  • Kompakte Stellfläche: ca. 0,5m²

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JEOL JSM-IT200 InTouchScope™
JEOL JSM-IT200 InTouchScope™

JSM-IT700HR InTouchScope™ Rasterelektronenmikroskop

Steigende Anforderungen erfordern stetige Weiterentwicklung. Daher wurde basierend auf der erfolgreichen Baureihe der JEOL InTouchScope ™ REMs das JSM-IT700HR entwickelt.Die neue High-brightness-Feldemissions-Elektronenquelle ermöglicht hochaufgelöste Abbildung und schnelle Analytik bei hoher Sensitivität und räumlicher Auflösung.

Merkmale

Das neue JSM-IT700HR ergänzt die beliebten JEOL InTouchScope™ REMs von JEOL.
Steigern Sie Ihre Produktivität durch die vollintegrierte Softwarelösung – nonstop von der Probennavigation über die Analyse bis zur Berichterstellung.

  • Neue High-brightness Feldemissions-Elektronenquelle für hochauflösende Abbildung und Analytik "Zeromag"-Funktion: Probennavigation einfacher denn je.
  • Live EDX ermöglicht erstmal Elementanalyse in Echtzeit parallel zur Bildaufnahme
  • Integriertes Datenmanagement: Einfachste Berichterstattung aller aufgenommenen Daten.
  • Einfache und effiziente Bedienung - vom Probeneinbau bis zur Bildaufnahme.
  • Die neu entwickelte „Auto Beam Alignment“-Funktion sorgt stets für ideale elektronenoptische Bedingungen.
  • Große Probenbühne für Proben aller Art kompakte Bauweise mit kleiner Stellfläche.

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JSM-IT700HR InTouchScope™
JSM-IT700HR InTouchScope™

JCM-7000 Tabletop-Rasterelektronenmikroskop

Intuitiv bedienbares Rasterelektronenmikroskop mit vollständig Hard- und Software-integriertem EDX-System und Niedervakuummodus, das es zum idealen Allrounder auch für nicht-leitfähige Proben macht. Neuwertiges System aus unserem Applikationslabor.

Merkmale

  • „Live 3D“: REM-Bild und rekonstruiertes 3D-Oberflächenbild in Echtzeit. Diese neue Funktion ermöglicht es, topografische Informationen und Tiefeninformationen von Proben zusammen mit REM-Bildinformationen der Probenoberflächen zu erfassen.
  • Vollwertige Elektronenoptik: Vergrößerung bis x100.000 und einfacher Kathodenaustausch durch vorzentrierte Wolfram-Filamente.
  • Die automatische Einstellung der Betriebsparameter basierend auf Probentyp und Fragestellung bietet hochwertige Ergebnisse und verbessert die Produktivität.
  • JEOL ZeroMag-Funktion: Stufenloser Übergang zwischen licht- und elektronenoptischer Abbildung für einfachste Probennavigation.
  • Vollständige Integration des JEOL-EDX-Systems inkl. Live-EDX für maximalen Bedienkomfort und intuitive Berichterstellung aller aufgenommenen Messdaten.
  • Voll-automatisierte Aufnahmen von REM-Abbildungen und Elementverteilungsbildern für hochaufgelöste Übersichtsmontagen.
  • Für die Untersuchung nichtleitender Materialien steht ein auf Knopfdruck zuschaltbares Niedervakuumsystem zur Verfügung.
  • Große Kammer für Proben bis 80 mm Durchmesser und 50 mm Höhe.
  • Einfache Installation – Eine Steckdose reicht für den Betrieb vollkommen aus!
  • Kompakte Bauform für den mobilen REM-Einsatz.

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JEOL JCM-7000 Tabletop-Rasterelektronenmikroskop
JEOL JCM-7000 Tabletop-Rasterelektronenmikroskop

IB-19530CP Präparationstool

Einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von qualitativ hochwertigen Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen - der JEOL Cross Section-Polisher IB-19530CP aus unserem Applikationslabor

Merkmale

  • Hoher Durchsatz durch Hochgeschwindigkeits-Ionenquelle und Auto-Start-Funktion
  • Automatische Bearbeitungsprogramme: High-Speed-Milling und Finishing, Intermitted-Milling
  • Einfacher Probeneinbau durch innovatives Halterkonzept
  • Multifunktionsbühne zur Erstellung von Querschliffen, Oberflächenpolitur eingebetteter Proben, Tiefenprofilierung, Sputter-Coating
  • langlebige Hochleistungsblende

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JEOL IB-19530CP Cross Section Polisher
JEOL IB-19530CP Cross Section Polisher

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