Rasterelektronenmikroskope (REM)

JEOL JSM-IT700HR InTouchScope™

Produkt
Merkmale
Optionen
Spezifikationen
Bilder
Info

JEOL JSM-IT700HR InTouchScope™

Steigende Anforderungen erfordern stetige Weiterentwicklung. Daher wurde basierend auf der erfolgreichen Baureihe der JEOL InTouchScope ™ REMs das JSM-IT700HR entwickelt.

Die neue High-brightness-Feldemissions-Elektronenquelle ermöglicht hochaufgelöste Abbildung und schnelle Analytik bei hoher Sensitivität und räumlicher Auflösung.

Mit dem JEOL eigenen integrierten EDX-System ist erstmals echte Live-Elementaranalyse möglich.

Merkmale

Das neue JSM-IT700HR ergänzt die beliebten JEOL InTouchScope™ REMs von JEOL.
Steigern Sie Ihre Produktivität durch die vollintegrierte Softwarelösung – nonstop von der Probennavigation über die Analyse bis zur Berichterstellung.

  • Neue High-brightness Feldemissions-Elektronenquelle für hochauflösende Abbildung und Analytik "Zeromag"-Funktion: Probennavigation einfacher denn je.
  • Live EDX ermöglicht erstmal Elementanalyse in Echtzeit parallel zur Bildaufnahme
  • Integriertes Datenmanagement: Einfachste Berichterstattung aller aufgenommenen Daten.
  • Einfache und effiziente Bedienung - vom Probeneinbau bis zur Bildaufnahme.
  • Die neu entwickelte „Auto Beam Alignment“-Funktion sorgt stets für ideale elektronenoptische Bedingungen.
  • Große Probenbühne für Proben aller Art kompakte Bauweise mit kleiner Stellfläche.

Optionen

  • Niedervakuum-Sekundärelektronen-Detektor (LSED)
  • Energiedispersives Röntgenspektrometer (EDX)
  • Wellenlängendispersives Röntgenspektrometer (WDS)
  • Elektronenrückstreu-Beugung (EBSD)
  • Probenschleuse
  • Probennavigations-Kamera (Stage Navigation System SNS)
  • Live-Kamera
  • Bedienpult
  • 3D-Software

Spezifikationen

Auflösung (HV)

1,0 nm (20 kV); 3,0 nm (1,0 kV)

Auflösung (Analytik)

3,0nm (15 kV, Probenstrom 3 nA)

Auflösung (LV)

1,8 nm (15 kV BED)

Vergrößerung

x 5 bis x 600,000
(Referenzabbildung 128 mm x 96 mm)

Elektronenquelle

High-brightness Feldemissions-Elektronenquelle

Beschleunigungsspannung

0.5 kV bis 30kV

Probenstrom

wenige pA bis 300 nA

Niedervakuum-Druck­bereich

10 bis 150Pa

Automatikfunktionen

Filament-Justage, Strahl-Ausrichtung,
Fokus / Stigmator / Helligkeit / Kontrast

Maximale Probengröße

200 mm Durchmesser, 75 mm Höhe

Bühnen-Spezifikationen

X: 125 mm, Y: 100 mm, Z: 80 mm
Kippung: -10° bis 90° Rotation: 360°

Bildmodi

Sekundärelektronenabbildung, gefilterte Abbildung, Rückstreu-Abbildung (Komposition/Topographie), Stereomikroskopische Abbildung, etc.

Bitte beachten Sie:

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

Kontaktformular

Gerne beantworten wir kostenlos und unverbindlich Ihre Fragen und beraten Sie bei anstehenden Projekten.
Übermitteln Sie uns Ihre Anliegen mit dem nachfolgend aufgeführten Kontaktformular (* = Pflichtfeld).

Kontaktart(en) wählen*

Ihre Kontaktdaten*



Neuigkeiten von JEOL


Ihre Nachricht an JEOL

Weitergabe Ihrer Nutzerdaten an Dritte

Diese Seite verwendet Dienste, die personenbezogene Daten erheben, damit Funktionen für soziale Medien angeboten und Webseitenzugriffe analysiert werden können. Es handelt sich um Google Maps (zur Anzeige unseres Standorts) und Google Analytics (zur lokalen Webseitenanalyse). Diese Dienste führen die Daten ggf. mit weiteren Daten zusammen. Weitere Informationen zu den von uns verwendeten Diensten und zum Widerruf finden Sie in unseren Datenschutzbestimmungen.
Ihre Einwilligung dazu ist freiwillig, für die Nutzung der Webseite nicht notwendig und kann jederzeit mit Wirkung für die Zukunft widerrufen werden.
Sie können die Erhebung und Verarbeitung der folgenden, von dieser Webseite genutzten Dienste ablehnen oder sie akzeptieren.

Die Hinweise zum Datenschutz habe ich gelesen und verstanden. Ich bin mit der Übertragung und Speicherung meiner Daten im Rahmen der Datenschutzerklärung einverstanden. Ich weiß, ich habe das Recht, diese Einwilligung jederzeit ohne Angabe von Gründen zu widerrufen ohne dass die Rechtmäßigkeit, der aufgrund meiner Einwilligung bis zum Widerruf erfolgten Verarbeitung davon berührt wird.