07.02.2023
Das von Grund auf neu konzipierte Präparationssystem JIB-PS500i mit fokussiertem Gallium-Ionenstrahl (FIB) ermöglicht in noch nie dagewesener Einfachheit die Herstellung, höchstauflösende Abbildung und Analyse dünner TEM-Lamellen und Querschnitte.
Gerade in boomenden Technologiesektoren wie der Batterie- oder Halbleiter-Produktion werden immer höhere Anforderungen an die verwendeten Werkstoffe gestellt. Hierfür wird zunehmend ein tiefes Verständnis der fundamentalen Funktionsweisen sogar auf atomarer Skala verlangt. Das neue JEOL FIB-System wurde entwickelt, um einfache und qualitativ hochwertige Präparationsabläufe für die höchstauflösende Elektronenmikroskopie zu ermöglichen. Durch die große Kammer und die sehr flexible Bühne können sogar große Wafer-Proben für die spätere TEM-Analytik verarbeitet werden. Dank neu konzipierter Software und vollständig integrierten Handling-Tools geschieht dieser Prozess dazu weitgehend automatisiert und ist auch für Einsteiger einfach beherrschbar. Neue, integrierte Detektoren ermöglichen zudem die hochauflösende Abbildung und EDX-Analytik bereits im FIB-System.
Erfahren Sie mehr auf unserer Produktseite zur neuen FIB