13.02.2023
JEOL freut sich auf Ihren Besuch zur MC23 in Darmstadt! Besuchen Sie uns vom 26.2.-2.3. im Kongresscenter "darmstadtium" und erfahren Sie unsere News zu Raster- und Transmissionselektronenmikroskopie aus erster Hand!
Vom 26.2.-2.3. öffnen sich die Tore des "darmstadtium"-Kongresscenters zur jährlichen Mikroskopie-Konferenz der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (DGE). Wir laden Sie ein, uns zur MC23 am JEOL-Stand der MC23 im Erdgeschoss zu besuchen und mit unserem internationalen Team ins Gespräch zu kommen. Wir sind von Montag bis Donnerstag durchgehend für Sie vor Ort!
Erfahren Sie alles zu unserer Neuheit im Bereich der FIB-Systeme, unserem komplett neu designten Präparationssystem JIB-PS500i mit fokussiertem Gallium-Ionenstrahl! Entdecken Sie die vielfältigen Möglichkeiten im Bereich Raster- und Tranmissionseletronenmikroskopie und wie unsere elektronenoptischen wie analytischen Systeme auch Ihre aktuelle Forschungsfragen unterstützen können.
Unsere Experten und besonderen Beiträge im Rahmen des allgemeinen Wissenschaftskongresses erleben Sie zusätzlich zu folgenden Zeiten:
Montag, 27.2.
14:00-16:00: Akira Yasuhara, In situ observation of structural and optical properties changes in Ag-Cu plasmonic nanoparticles by using specimen heating holder
Yasuaki Yamamoto, Improvement of SEM-SXES analysis for beam sensitive materials by using cooling stage
17:52-18:00: Manuel Reinhard, The JEOL FIB reinvented – New Workflows for EM and beyond
Dienstag, 28.2.
14.00-16.00: Emanuel Katzmann, Improved performance with CRYO ARM II series
Philipp Wachsmuth, JEOL`s JSM-IT800 series: high performance SEM for all users
19:58-20.13: Philipp Wachsmuth, Automation of TEM alignment using python scripting
Zusätzlich ganztags für Sie vor Ort am JEOL-Stand: Synergy-ED-Spezialist Dr. Robert Bücker
Mittwoch, 1.3.
12.45-13.45: Philipp Wachsmuth, Advanced tools and techniques for battery research – including JEOL‘s reinvented
Focus Ion Beam System (Lunch Lecture + News/Q&A)
14:00-16:00: Yuji Konyuba, Correlative light and electron microscopy of poly(ʟ-lactic acid) spherulites for automatic
detection
Takanori Murano, Observation of chemical state changes during sample cooling using a soft X-ray
emission spectrometer
Philipp Wachsmuth, Optimum BF (OBF) STEM using the SAAF detector